4月11日，学院分析测试中心与北京高德英特科技有限公司联合举办了“PHI CHINA 表面科学与技术研讨会”。
研讨会邀请了台湾中央研究院薛景中教授、中国科技大学朱俊发教授、集美大学吴启辉教授以及
我院王水菊教授级高级工程师等表面分析领域的著名专家就当今表面科学与分析技术特别是
XPS、UPS、AES和TOF-SIMS新方法新技术及其在化学和材料学科的应用进行交流和研讨。
来自厦门大学、福州大学、华侨大学、集美大学以及部分企业的近100名代表参加了研讨会，
学院张昌胜副院长代表学院出席并致辞。
经过一天满满的学术讲座与交流，参会代表不但学习和了解了XPS等表面分析技术，也加深了对学院分析测试中心的了解。
